Autores:
Aguilar-Frutis, M., Alvarez-Fregoso, O., Burillo, G., Chávez-Ramírez, J., Falcony, C., Flores-Morales, C., López-Romero, S.
Palavras-chave:
dielectric materials, electrical properties and interfaces., estructuras mos, field effect transistor (fet), materiales dieléctricos, mos structures, propiedades eléctricas e interfases, transistor de efecto de campo (fet)
Encontrado em:
Superfícies e Filmes Finos/Filmes Ferroelétricos
